为什么游戏本工作时CPU和GPU的温度可以达到那么高的温度?-游戏本打游戏的时候cpu温度

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题目:为什么CPU和GPU可以达到那么高的温度?回答:因为在功耗和散热条件一定时芯片面积越小,温度越高。单独来看100W的发热量可能不算大,但是对于通常只有几百平方毫米的CPU和GPU,在空冷条件下会带来非常高的温度。而真空腔均热板/热管有着远高于普通金属和硅芯片的导热系数,使用均热板/热管连接散热鳍片等效于提高了CPU/GPU和散热鳍片的接触面积。

P=a∗C∗V2∗fP=a*C*V^2*f

在理想情况下,对于给定的CPU,其功率与电压的平方和频率成正比。而CPU消耗的绝大部分电能都转化成了热能,为了降低功耗和发热,降低工作电压和频率成了移动芯片的主流选择。[1][2][3]

Pcpu=Pdyn+Psc+PleakP_{cpu}=P_{dyn}+P_{sc}+P_{leak}

考虑CMOS反相器(非门)的能量转化,其功率可分为三部分:动态功率 PdynP_{dyn} 、短路功率 PscP_{sc} 和漏电功率 PleakP_{leak} 。其中PscP_{sc}PleakP_{leak}远小于PdynP_{dyn},可以忽略。[1][2][3]

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CMOS反相器由一个P沟道MOS管(负载管)和一个N沟道MOS管(输入管)组成。负载管源极接高电压 VDDV_{DD} ,输入管源极接地,负载管和输入管栅极接输入端,负载管和输入管漏极接输出端。要求 V_{GS(tr)N}+|V_{GS(tr)P}|”>VDD>VGS(tr)N+|VGS(tr)P|V_{DD}>V_{GS(tr)N}+|V_{GS(tr)P}| ,其中 VGS(tr)NV_{GS(tr)N} 为N沟道MOS管的开启电压, VGS(tr)PV_{GS(tr)P}P沟道MOS管的开启电压。[4]

对于P沟道MOS管,栅极施加低电平导通,栅极施加高电平截止;对于N沟道MOS管,栅极施加高电平导通,栅极施加低电平截止。对于CMOS反相器,输入低电平时,负载管导通,输入管截止,输出高电平;输入高电平时,输入管导通,负载管截止,输出低电平。

反向偏置的MOS管看成电容器,正向偏置的MOS管看成短路。由于任一工作状态下,CMOS反相器均有一个MOS管导通和一个MOS管截止,在变换状态时,截止的MOS管放电,导通的MOS管充电。由于电容中储存的能量为 EC=12CV2E_{C}=\frac{1}{2}CV^{2} ,每个工作周期CMOS反相器变换两次工作状态,这些能量最终以焦耳热的形式释放,因此总共有 Etr=CV2E_{tr}=CV^{2} 的电能被消耗。[3]

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由一个周期内的能量消耗不难推出CPU的功率 P∝C∗V2∗fP∝C*V^2*f ,考虑到CPU中包含成千上万个这样的门电路,因此有 P=a∗C∗V2∗fP=a*C*V^2*f 。[3]

如果把硅芯片看成在水平面上完全均匀的物体(近似处理,实际上并不可能。从单晶硅到硅芯片要进行蚀刻掺杂氧化金属化布线等处理,早已不再是硅单质),在发热功率恒定和相同的散热条件下,芯片面积越小,温度越高。

傅里叶定律:当物体内的温度只依赖一个空间坐标,而且温度分布不随时间发生变化时,热量沿温度降低的方向传导,称之为一维定态热传导,可用下式描述:qx=−kdTdxq_{x}=-k\frac{dT}{dx}

其中 qxq_{x}热流密度,表征在与热传导方向x垂直的平面单位面积上,在x方向上传热的速率;T为温度,x为热传导方向坐标,k为物体的导热系数。此式表明热流密度 qxq_{x} 与x方向上的温度梯度 dTdx\frac{dT}{dx} 成正比,热流方向与温度梯度方向相反。[5]

想象这样一个场景:硅芯片上方紧贴着一块足够大的铜板,铜板上方有足够多的水,铜板下方除硅芯片外为理想真空。将硅和铜视为理想晶体,在水平方向上规则均匀排布。忽略硅芯片的厚度,铜板的厚度固定,水的温度恒定。忽略界面的空隙和气泡。忽略热对流和热辐射。忽略边界效应

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由已知条件容易得出铜板上表面的温度 T2T_{2} 恒定。当硅芯片的发热功率 PP 恒定时,体系最终会趋于稳态。此时所有热量均通过硅-铜界面竖直向上传导,符合一维定态热传导。

设铜板在竖直方向上的导热系数为 kk ,铜板厚度为LL,硅芯片面积为 AA 。根据傅里叶定律,可以计算出铜板下表面的温度 T1T_{1}

qx=−kdTdxq_{x}=-k\frac{dT}{dx} 进行积分,

∫12qxdx=∫12−kdTdxdx\int_{1}^{2}q_{x}dx=\int_{1}^{2}-k\frac{dT}{dx}dx

解得 qxL=k(T1−T2)q_{x}L=k(T_{1}-T_{2})

∫∫qxL=∫∫k(T1−T2)\int_{}^{}\int_{}^{}q_{x}L=\int_{}^{}\int_{}^{}k(T_{1}-T_{2})

解得qxLA=k(T1−T2)Aq_{x}LA=k(T_{1}-T_{2})A

由于 P=qxAP=q_{x}A

因此 T1=PLkA+T2T_{1}=\frac{PL}{kA}+T_{2}

这个结果是在理想化的条件下得出的。实际上硅芯片并非均匀的。芯片与散热装置之间存在空隙。桌面CPU采用钎焊/硅脂导热封装,散热器底座、热管和鳍片采用焊接方式连接,对热管进行压扁和折弯,对鳍片表面进行镀镍处理。这些因素都会在一定程度上降低散热效果。此外必须指出的是,这里忽略了水平方向上的热传导,在实际应用中由于硅芯片的面积有限,在硅芯片边缘与铜板之间的热传导是不均匀的。

参考

^abCPU power dissipation – Wikipedia https://en.wikipedia.org/wiki/CPU_power_dissipation^abWhy P scales as C_V^2_f is so obvious https://software.intel.com/content/www/us/en/develop/blogs/why-p-scales-as-cv2f-is-so-obvious.html^abcdWhy P scales as C_V^2_f is so obvious (pt 2) https://software.intel.com/content/www/us/en/develop/blogs/why-p-scales-as-cv2f-is-so-obvious-pt-2-2.html^CMOS反相器工作原理_主要特性_特点-维库电子通 http://wiki.dzsc.com/7202.html^热传导_百度百科 https://baike.baidu.com/item/%E7%83%AD%E4%BC%A0%E5%AF%BC

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